Φασματοσκοπία Φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ

Ηλεκτρονική Μικροσκοπία Σάρωσης ηλεκτρονίων Auger

Το εργαστήριο Επιστήμης Επιφανειών στεγάζει την διάταξη Φασματοσκοπίας Φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ και Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Σάρωσης ηλεκτρονίων Auger (SAM/AES) το οποίο βρίσκεται στο Τμήμα Φυσικής. Η διάταξη αποτελείται από ένα υψηλής ευαισθησίας φασματόμετρο Kratos AXIS 165. Αυτό το φασματόμετρο αποτελεί έργο τέχνης για μετρήσεις υψηλής απόδοσης με δυνατότητες επιπλέον απεικόνισης και έχει σχεδιαστεί για να ανταποκριθεί στις πιο απαιτητικές ανάγκες της επιστήμης των επιφανειών.