Διάταξη

Τα χαρακτηριστικά της διάταξης είναι:

• Σφαιρικός κατοπτρικός αναλυτής (SMA) και ημισφαιρικός ομόκεντρος αναλυτής (HSA) ακτίνας 165 χιλ συνδιασμένος με ένα delay-line ανυχνευτή (DLD) με πάνω από 100 κανάλια στο σύστημα ανίχνευσης για καλύτερο διαχωρισμό της ενέργειας, μεγαλύτερη ευαισθησία στη φασματοσκοπία μικρής περιοχής (15 μm) και τη δυνατότητα εικόνες χημικής ανάλυσης.
• Δύο πηγές ακτίνων-Χ: Μονοχρωματισμένη πηγή λυχνίας Αλουμινίου (1486.6 eV) και διπλή μη-μονοχνωματισμένη πηγή λυχνίας Μαγνησίου (1253.6 eV) Αλουμινίου (1486.6 eV)
• Δυνατότητα απεικόνισης της κατανομής των στοιχείων στην επιφάνειας με χωρική ανάλυση μεγαλύτερη των 5 μm (parallel imaging) και φασματοσκοπία πολλαπλών σημείων (multipoint scan)
• Μαγνητικοί φακοί ενίσχυσης για μεγαλύτερη ευαισθησία στην ανάλυση μικρών περιοχών και στην απεικόνιση
• Σύστημα ουδετεροποίησης της επιφάνειας από φαινόμενα φόρτισης για μονωτικά δείγματα (neutralization)
• Δυνατότητα μέτρησης σε διάφορες θερμοκρασίες (από -80 έως 500 ^oC περίπου)
• Καθαρισμός και ανάλυση επιφάνειας συναρτήσει του βάθους με τη χρήση πηγής ιόντων αργού (Ar Ion source)
• Αυτόματος μηχανικός βραχίονας σε τρεις διευθύνσεις (xyz) με τη δυνατότητα στρέψης (angle) για ανάλυση συναρτήσει της γωνίας στρέψης.
• Σύστημα πλήρες ελεγχόμενο και αυτοματοποιημένο από εικονογραφημένο πρόγραμμα ηλεκτρονικού υπολογιστή (Vision 2.2.10 software)