Ανάλυση

Προδιαγραφές δειγμάτων

    Σχεδόν κάθε υλικό μπορεί να αναλυθεί με XPS εφ 'όσον πληρούνται ορισμένοι προδιαγραφές.

  • Τα δείγματα πρέπει να είναι συμβατά για μέτρηση σε υπερυψηλό κενό (<10-8 Torr) και ως εκ τούτου να αποτελούνται από ένα στερεό υλικό. Για να εξασφαλιστεί η έγκαιρη ανάλυση, συνιστάται ξήρανση σε κλίβανο κενού ή ξηραντήρα για να αφαιρεθούν οποιαδήποτε πτητικά υγρά προσροφημένα μέσα ή πάνω στα δείγματα. Οποιαδήποτε επαφή με γυμνό χέρι δεν ενδείκνυται.
  • Για βέλτιστα αποτελέσματα, πρέπει να υπάρχει μια λεία επιφάνεια τουλάχιστον 4 mm². Για δείγματα σκόνης, θα πρέπει να υπάρχει διαθέσιμο υλικό για να καλύψει αυτήν την περιοχή.
  • Ο δειγματοφορέας έχει μία περιοχή 10.5 x 1.5 cm που μπορούν να χωρέσουν μέχρι και 6 δείγματα με το ελάχιστο μέγεθος. Τα δείγματα μπορεί να είναι μεγαλύτερα από το δειγματοφορέα αλλά το μέρος του δείγματος που θα βρίσκεται εκτός της περιοχής του δεν θα είναι προσβάσιμα για ανάλυση.
  • Το πάχος των δειγμάτων δεν πρέπει να ξεπερνάει τα 3 mm. Ενδεικτικό ύψος λίγο κάτω από 0.65 mm για την καλύτερη τοποθέτηση και ανάλυση των δειγμάτων.

 Το εργαστήριο δεν παρέχει υπηρεσίες προετοιμασίας δειγμάτων.

 

DSC 0685

 


Γενική επικοινωνία τμήματος:
Τμήμα Φυσικής
Αριστοτέλειο Πανεπ. Θεσσαλονίκης
Πανεπιστημιούπολη
54124 Θεσσαλονίκη, Ελλάδα
http://www.physics.auth.gr/ 
  espa logo Το έργο χρηματοδοτήθηκε από την Περιφέρεια Κεντρικής Μακεδονίας και το πρόγραμμα ανάπτυξης ΕΣΠΑ 2007-2013.